BYK 45℃微型光澤度儀4567

• 更新時間：2017-11-10
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BYK 45℃微型光澤度儀4567
陶瓷材料，塑料薄膜和固體塑料，紙和紙板可以測量20°，60°，85°標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀或45°或75°工業(yè)特定幾何形狀的鏡面光澤度。不透明和透明的塑料薄膜和固體塑料通常在45°角度下測量中等和低光澤度。對于透過光線的薄膜，必須在樣品后面放置一層如黑色的磨砂面板（如黑色磨砂面板）5015，在沒有合適的背襯的情況下進行錯誤的測量

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BYK 45℃微型光澤度儀4567

具體的材料需要特定的測量角度：

陶瓷材料，塑料薄膜和固體塑料，紙和紙板可以測量20°，60°，85°標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀或45°或75°工業(yè)特定幾何形狀的鏡面光澤度。不透明和透明的塑料薄膜和固體塑料通常在45°角度下測量中等和低光澤度。對于透過光線的薄膜，必須在樣品后面放置一層如黑色的磨砂面板（如黑色磨砂面板）5015，在沒有合適的背襯的情況下進行錯誤的測量，標(biāo)準(zhǔn)測試方法要求讀數(shù)在每個樣品的至少三個部分，以獲得光澤均勻性的指示，微光澤的統(tǒng)計模式將顯示平均值和范圍或標(biāo)準(zhǔn)偏差作為樣品均勻性的量度，陶瓷，搪瓷和其他飾面使用45 °幾何形狀，并通常通過測量光澤度損失來比較它們對酸，堿或其它環(huán)境因素的抵抗力。

為了評估光澤度的變化，必須在整個樣品表面上進行多次讀數(shù)并評估平均值以確保代表性結(jié)果ASTM C 346，D 2457，JIS Z 8741應(yīng)用：陶瓷，塑料，塑料薄膜，測量范圍10 - 180 GU。μ標(biāo)準(zhǔn)ISO 2813,7668 ASTM D 523，D 2457 DIN 67530 JIS Z 8 741系統(tǒng)要求：操作系統(tǒng)32位：Windows®7 SP1或8.1Microsoft®.NET Framework 4硬件：Core 2 Duo，2.2 GHz，推薦i7或等效內(nèi)存：4 GB RAM，推薦8 GB硬盤容量：分鐘。 300 MB顯示器分辨率：1280 x 1024像素或更高接口：空閑的USB端口。

測量范圍：0 - 180GU
測量面積：9 x 13毫米（0.35 x 0.5英寸）
重復(fù)性：±0.2 GU /±0.2％
重現(xiàn)性：±0.5 GU /±0.5％
光譜靈敏度：用于光源CIE-C的CIE標(biāo)準(zhǔn)觀測器
測量時間：0.5秒/幾何
厚度：
基材 - 鐵：磁性，NFe：非磁性
測量范圍：0 - 500Mm（0 - 20密耳）
準(zhǔn)確度：±（1.5Mm +測量值的2％）
記憶：999日期和時間的讀數(shù)
接口：USB
電源：一個1.5V AA堿性電池4,000個讀數(shù)或通過USB端口